BS IEC 60747-14-3-2009 半导体设备.半导体传感器.压力传感器
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时间:2024-05-21 13:17:32
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Semiconductorsensors-Pressuresensors
【原文标准名称】:半导体设备.半导体传感器.压力传感器
【标准号】:BSIEC60747-14-3-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-07-31
【实施或试行日期】:2009-07-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义(术语);电气工程;电子工程;电子设备及元件;滞后现象;线性度;测量;测量技术;光电子器件;压力传感器;额定值;半导体器件;半导体传感器;传感器;温度系数
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Hysteresis;Linearity;Measurement;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Pressuresensors;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductorsensor;Sensors;Temperaturecoefficients
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体设备.半导体传感器.压力传感器
【标准号】:BSIEC60747-14-3-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-07-31
【实施或试行日期】:2009-07-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义(术语);电气工程;电子工程;电子设备及元件;滞后现象;线性度;测量;测量技术;光电子器件;压力传感器;额定值;半导体器件;半导体传感器;传感器;温度系数
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Hysteresis;Linearity;Measurement;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Pressuresensors;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductorsensor;Sensors;Temperaturecoefficients
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
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