ASTM F126 评定电迁移平均失效时间和集成电路金属喷镀σ值的测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-29 17:45:39
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【英文标准名称】:DefinitionsofTermsRelatingtoWhichRelatetotheUseandTestingofFerriteMemoryCoresandMemoryCoreArrays
【原文标准名称】:评定电迁移平均失效时间和集成电路金属喷镀σ值的测试方法
【标准号】:ASTMF126
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;应力;失效率;微电子学;喷镀金属
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【原文标准名称】:评定电迁移平均失效时间和集成电路金属喷镀σ值的测试方法
【标准号】:ASTMF126
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;应力;失效率;微电子学;喷镀金属
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
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